SID2026｜聚焦無摺痕體驗升級，TCL 華星推動摺疊屏從「能用 」邁向「極致好用」

（來源：維科網顯示）

2026年美國國際顯示周（以下簡稱「SID2026」）期間，TCL華星帶來了全技術路徑下的多款前沿顯示解決方案，展示了包括無摺痕在內的前沿顯示技術的場景應用潛力，刷新全球消費者對於「一塊好屏」的體驗認知 。其中，全球首款柔光無痕摺疊OLED手機顯示(7.8")、全球首款一體無痕摺疊OLED手機顯示(6.9")作為TCL華星無摺痕技術應用的代表，也讓該類技術的創新突破，轉化為消費者「一眼可見」的真實體驗。

讓屏幕從可折走向無感，TCL華星給出無摺痕更優解

當前，摺疊屏正加速進入更多用户的主機選擇範圍，曾經備受關注的厚度與續航問題已得到進一步改善。但在體驗層面，仍有一些挑戰未完全解決：一是內屏展開后，屏幕與黑色前框之間存在高度差，遠看像屏幕裹挾在一個黑色相框中，破壞了一體化的沉浸感；二是強光下刺眼的屏幕反光，成為消費者最直觀的使用槽點。

本質上看，摺痕問題並不只是簡單的表面凹陷，而是由彎折區域長期受力、材料塑性變形、支撐結構不連續以及反光差異共同疊加形成。真正的無摺痕方案，不能只依賴單點修補，而必須同時解決結構平整性、材料形變控制以及視覺可見度弱化等多重問題。

TCL華星從解決摺疊不平整、久用變形、強光應用以及護眼視效四大難題出發，逐層拆解成因，針對不同的摺疊形態，以「無感疊構」設計，推動摺疊屏從「看得見摺痕」走向「肉眼不可見」，從「能用」邁向「更好用」。

系統優化摺疊形態， 實現一體無痕突破

在摺疊一體無痕方向上，TCL華星圍繞模組疊構、支撐材料、鉸鏈平整度及外層設計進行了系統性優化，以全鏈路技術提升摺疊體驗。

創新疊構設計，從源頭消除變形。通過引入多層UTG，將顯示屏夾持於中心，讓屏幕有效減輕了顯示面的局部變形，提升表面平整度，為無痕摺疊提供了更優的結構基礎。

微孔矩陣式支撐，終結摺痕頑疾。傳統摺疊屏彎折區採用大孔網格支撐，導致摺痕深化。TCL華星開發出極小微孔(＜20μm)漸變式支撐材，提供更平整、更連續的支撐；並搭配新一代膠材，有效釋放彎折堆疊中各層應力，顯著延長材料塑性形變的發生時間，在日常使用中降低摺痕感知。

鉸鏈鋪平優化，平整度再進階。通過對鉸鏈不同高度差進行填平優化，精度可控制在100μm以內，整機彎折區平整度進一步提升，由內而外進一步淡化摺痕痕跡。

一體鏡面設計，重塑全面屏美學。在此基礎上，TCL華星採用一體鏡面設計，去除前框，以UFG作為最上層蓋板，結合外擴屏體設計與整機中框粘接，去除傳統摺疊機的視覺邊框，營造類直板一體鏡面效果，提升摺疊手機的全面屏觀感與使用體驗。

SID2026期間，TCL華星展出的全球首款一體無痕摺疊OLED手機顯示(6.9")，正是這一技術路徑的集中體現。該產品首創無前框結構設計，打破傳統邊框束縛，實現屏幕與機身的渾然一體，消除了視覺割裂感，熄屏狀態下呈現出完整的鏡面美學效果。同時搭載自研模組應力平衡疊構與UTG（超薄玻璃）強化工藝，從源頭消除了塑性變形，實現了肉眼不可見的無摺痕顯示，為摺疊屏手機帶來更優的外觀與顯示體驗。

從視覺平整到高清柔光護眼 ，重構摺疊觀看體驗

在柔光無痕摺疊方向，TCL華星從用户視覺體驗出發，對摺痕結構進行優化，進一步弱化摺痕可見度。

通過應用3A柔光表面——集成創新微結構低反射膜層，屏幕在抗眩性與反射率上具備良好表現。這不僅能在户外強光下高效規避鏡面反光，保持畫面清晰通透，也有助於在夜間模式下減輕雙眼反覆對焦的負擔，延緩視疲勞，從視覺上進一步讓摺痕隱形。

同時在此基礎上，通過引入全新複合柔光膜層，使摺疊屏幕兼具3A、均光以及彎折性能，閃點率低至3%，大幅改善屏體在室內高強度大面積光照下（如射燈）帶來的屏體衍射的光斑問題，在保留類紙柔和質感的同時呈現高清畫質，為摺疊屏提供更舒適的「隱形」摺痕與高清柔光體驗。

此外，TCL華星關注到傳統摺痕評價方法多依賴高度差、摺痕角度等指標，難以全面反映實際觀感，為此，嘗試提出一種更貼近人眼感知的光學測試方法，通過投射平行光柵、規則圓點等標準光學圖案，並結合算法解析圖像形變曲率、畸變幅度、圖像秩等關鍵參數，實現摺痕表現的量化表徵。目前，該方法已納入電子行業標準計劃並立項通過，未來將助力柔性顯示領域高質量協同發展。

TCL華星基於先進顯示技術品牌APEX臻圖，運用前沿顯示技術為消費者打造具備先進顯示體驗的「一塊好屏」。作為摺疊屏UTG疊構技術的先行者，TCL華星已在摺疊領域深耕十年，並憑藉深厚技術積累，推動摺疊屏從「能用」到「好用」，再到「極致好用」，為用户帶來真正無痕、類直板效果的摺疊新體驗。未來，TCL華星仍將在摺疊領域持續探索創新，不斷拓展摺疊顯示的體驗邊界，打造更多摺疊新創意與新可能。