电科芯片参与编制的宇航元器件可靠性试验国家标准正式发布

近日，电科芯片作为主要起草单位，联合编制的《空间环境 宇航用电子元器件空间环境效应模拟试验通用要求》国家标准正式发布。

在极端温度、真空、辐射等严苛太空环境下，元器件的任何微小故障都可能引发任务失败甚至灾难性后果，可靠性试验是确保宇航元器件“万无一失”的生命线。该标准是我国宇航用电子元器件领域的重要技术规范，首次系统性规定了宇航元器件在空间环境服役时所需开展的地面模拟试验方法及评价准则，覆盖辐射环境、真空环境、温度环境等多类环境应力。该标准的出台将为我国宇航元器件研制、检测与应用提供统一的技术依据，有效解决长期以来因试验标准不统一导致的产品质量差异问题，标志着我国宇航元器件质量控制体系迈向标准化、系统化新时代，对保障探月工程、空间站建设等国家重大航天任务具有深远意义。

未来，电科芯片将依托该标准，持续优化高可靠元器件研发体系，助力中国航天事业攀登新征程，为人类探索宇宙贡献智慧与力量。