NI宣布通过与领先的ATE供应商Teradyne合作实现实时分析支持

将NI Global Operations的强大分析平台与ATE平台的低延迟实时控制相结合。

NI（纳斯达克股票代码：NATI）宣布了一项新举措，利用其NI Global Operations（GO，前身为Optimic+）平台在边缘提供实时半导体分析解决方案。这种新水平的基础设施和控制为平台用户、NI甚至第三方开发的更高级和定制的应用程序打开了大门。NI GO生态系统中的新启用层以及与领先ATE供应商Teradyne的初步集成凸显了这一消息。

对半导体测试操作的质量、产量、吞吐量和功能要求不断提高，激发了人们对开发更好、响应更快的测试控制的兴趣。为了解决这个问题，新的NI全球运营实时应用程序启用层将现有的GO平台功能扩展到安全、低延迟的测试服务器，以便分析模型可以与测试执行同步运行。NI测试与分析软件副总裁兼总经理Rudy Sengupta补充道：“半导体行业的所有趋势都表明更加重视测试。为了跟上步伐，我们的客户需要更快地做出测试决策，这现在意味着与测试本身保持一致。为了使其可行，我们了解生态系统协作的价值，并将我们新的实时启用层和ATE合作伙伴关系视为我们可以从测试分析中得出的价值的关键拐点。"

新的启用层通过添加对ATE测试平台的集成支持，增强了NI全球运营部的开放式架构和强大的分析能力。他们的本地数据、安全和通信协议与NI GO后台分析相结合，为半导体测试中的实时控制创建了完整且值得信赖的解决方案。从Teradyne开始意味着他们的测试人员将能够访问这些新功能。此外，开放式架构将允许未来支持任何和所有ATE供应商和平台，更多计划发布。

通过直接与ATE供应商合作，NI可以确保围绕这些联合解决方案的长期支持、协作和创新。这些关系旨在实现组合的集成架构，该架构更好地利用ATE服务器，为半导体测试优化提供新的可能性。由于ATE供应商增加了投资，以通过安全、集成的边缘解决方案支持其测试平台，这现在成为可能。

Teradyne阿基米德分析解决方案将数据分析、人工智能和机器学习等技术集成到测试解决方案中。其开放式架构支持领先的分析解决方案模型，并实现安全的实时数据流，测试时间影响接近零，从而提高质量、提高产量并减少测试人员停工时间。Teradyne半导体测试营销副总裁Regan Mills表示：“Teradyne很高兴与NI合作，支持其全球运营平台上的高级分析，高级学习模型加上安全、真实的数据对于交付优质的最终产品和支持新兴技术至关重要。NI的GO平台和Teradyne的阿基米德提供了端到端解决方案，可在安全且受保护的环境中提供实时数据生命周期管理。"

作为Teradyne Archimedes生态系统的一员，NI GO分析模型和应用程序获得了可用的计算资源，比以往任何时候都更接近测试活动，这意味着可以在测试执行期间触发数据驱动的操作和控制。此外，这些模型受益于ATE服务器本地的安全协议，这意味着所有数据和IP都得到了充分的保护。因此，现有的解决方案，如Re-binning或DPAT，可以实时产生更大的影响力，同时也为下一代和DIY解决方案打开了大门，这些解决方案从未被认为是可能的，如漂移检测。

NI的这一发展不仅仅是他们对半导体测试和分析生态系统最近行业变化的贡献。它完成了从测试仪到边缘再到云再返回的整个分析管道。这意味着基于ATE的实时模型并不是孤立或停滞的。它们由一个更大的分析生态系统提供支持，该生态系统将内部和外部的所有测试人员和测试层连接到单个大数据实例，允许更深入地学习，以获得更有影响力、持续更新的见解。此外，GO边缘服务器还充当模型和应用程序管理中心，以确保实时模型得到有效部署、更新、跟踪和EOLed。

通过将实时控制与完整的自适应分析后台相结合，NI GO + ATE解决方案旨在成为市场上最具影响力的测试控制功能。